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DIN EN IEC 63287-1:2020 Edition

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Halbleiterbauelemente – Allgemeine Leitlinien für die Qualifikation von Halbleitern – Teil 1: Leitlinien für die LSI-Zuverlässigkeitsqualifikation (Entwurf)

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DIN 2020-06 83
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Dieser Teil der DIN EN IEC 62387 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von großen Halbleiter-IC-Produkten. Das Dokument ist nicht für Anwendungen in der Luft- und Raumfahrt vorgesehen.

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